來看看，這是你想了解的殘余奧氏分析儀嗎？
更新時間：2022-04-27 點擊次數：1361次
殘余奧氏分析儀比以往歷代殘余應力分析儀較快速、精度較高，提供的數據較可靠。XstressDR45的檢測速度和準確性使殘余應力測量方面大大*出了實驗室范圍，并進入了生產線。直觀、簡捷的界面的，全新支持軟件與全新技術相結合，可提供的工作效率。
殘余奧氏分析儀的主要特點：
1、可測奧氏體220/311、鐵素體200/211的衍射峰值強度，符合ASTME975-03國際標準；
2、多衍射峰測量方式能夠減少晶體優化取向帶來的影響；
3、使用精密的自動反饋控制電路獲得*的X射線發生器穩定性；
4、自動調整高電壓與電流輸出脈動值；
5、配備大功率、上等的玻璃(陶瓷)X射線管；
6、高聚焦單毛細管準直器，高分辨率CCD探測器。
在許多工業生產加工過程中，對殘余奧氏體含量的控制非常嚴格，精確測量其含量，對于鋼鐵熱處理過程中產品特性和質量的控制有重大意義。因為化學蝕刻和傳統金相研究存在靈敏度和準確度較低的情況，所以無法做到工業生產中對殘余奧氏體的精確測量，而X射線衍射法可以測量低至0.5%的殘余奧氏體含量，故ASTM頒布E975標準方法：X射線法測量近無規結晶取向鋼中殘余奧氏體的含量，AreXD正是根據此標準設計開發。
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